• О компании
  • Прайс-лист
  • Галерея
  • Статьи
  • Контакты
  • Каталог
  • ...
    +7 (495) 234-23-32
    Заказать звонок
    Оставить заявку
    info@microsystemy.ru
    microsystemy.ru
    Поставка микроскопов различных типов, оборудования для науки и промышленности
    Новый лейбл официальный дилер Olympus
    Бренды
    Микроскопы
    • По области применения
      • Биология / Медицина
      • Материаловедение
      • Метрология
      • Обучение
      • Электронная микроскопия
    • По конструкции
      • Прямые
      • Инвертированные
      • Конфокальный лазерный
      • Стереоскопические
      • Цифровые
      • Цифровые сканнеры микропрепаратов
      • Электронный
      • Атомно-силовые
    • По методу исследования
      • Светлое поле
      • Темное поле
      • Фазовый контраст
      • Флуоресцентный
      • ДИК
      • Поляризация
    • По объекту исследования
      • Биология / медицина
      • Ветеринария
      • Геология +
      • Криминалистика
      • Металлы / материалы
      • Микроэлектроника
      • Реставрация
    Сканеры и анализаторы
    • Область применения
      • Биология / Медицина
      • Химия / физика
      • Рентген флуоресцентный анализ
    • Объект исследования
      • Микропрепараты
      • Металлы / минералы
    Пробоподготовка
    • Класс оборудования
      • Шлифовальные станки для металлографии
    Специальное оборудование
    • Тип
      • Камеры для микроскопов
      • Микротомы
      • Вакуумные установки
      • Литографы
      • Объективы для микроскопов
    Ещё
      microsystemy.ru
      Меню  
      • Каталог
        • Микроскопы
        • Сканеры и анализаторы
        • Пробоподготовка
        • Специальное оборудование
      • Бренды
      • О компании
        • Поставки
        • Карта поставок
        • Гарантии
        • Общественная деятельность
      • Новости
      • Статьи
      • Мероприятия
      • Контакты
      Оставить заявку
      Заказать звонок
      +7 (495) 234-23-32
      microsystemy.ru
      Телефоны
      +7 (495) 234-23-32
      Заказать звонок
      • Главная
      • Каталог
        • Назад
        • Каталог
        • Микроскопы
        • Сканеры и анализаторы
        • Пробоподготовка
        • Специальное оборудование
      • Бренды
      • О компании
        • Назад
        • О компании
        • Поставки
        • Карта поставок
        • Гарантии
        • Общественная деятельность
      • Новости
      • Статьи
      • Мероприятия
      • Контакты
      • +7 (495) 234-23-32
      Контактная информация
      Россия, 123317, Москва, ул. 3-я Красногвардейская, 3., 1 этаж
      info@microsystemy.ru
      Главная
      -
      Статьи, новости и события
      -
      Статьи
      -Краткое введение в метрологию поверхности

      Краткое введение в метрологию поверхности

      Поделиться

      21 февраля 2017 0:00
      Краткое введение в метрологию поверхности - Микросистемы

      Метрология поверхности является наукой, занимающейся измерением топографии, то есть получением показателей параметров поверхности с учетом амплитуды, расположения и формы ее особенностей. Термин топография был заимствован из греческого языка: "topo" означает место, а "graph" означает тип буквенного отображения.


      microsystemy_ru_articles_Brief_Introduction_to_Surface_Metrology

      Множество поверхностей разрабатываются с учетом наличия функциональных параметров. Согласно требованиям применения, поверхность должна иметь конкретные топографические особенности. В частности, структурные параметры неразрывно связаны с функциональными характеристиками.

      Развитие метрологии поверхности традиционно основано на тактильных методах, осуществляющих сбор информации посредством физического контакта с поверхностью. Несмотря на то, что данный тип анализа подходит для большинства применений, данные методы требуют очень много времени и могут повредить образец. К тому же, форма и размер иглы могут лимитировать функционал устройства.

      Благодаря последним разработкам в технологиях измерения, существует множество оптических методов получения характеристик поверхности. По сравнению с профильными измерениями поверхности (тактильные методы), оптические методы позволяет получать более надежную и достоверную информацию.

      microsystemy_ru_articles_Brief_Introduction_to_Surface_MetrologyГлавной задачей подобных систем измерения топографии является получение пространственных координат точек поверхности. Информация, полученная с помощью данных координат, затем используется для получения 3D модели формы и текстуры неизвестных объектов.

       

      microsystemy_ru_articles_Brief_Introduction_to_Surface_Metrologymicrosystemy_ru_articles_Brief_Introduction_to_Surface_Metrology

      microsystemy_ru_articles_Brief_Introduction_to_Surface_Metrology

       



      Поделиться

      Назад к списку
      Компания
      О компании
      Продукция
      Прайс-лист
      Гарантии
      Карта поставок
      Поставки
      Контакты
      Каталог
      Бренды
      Микроскопы
      Сканеры и анализаторы
      Пробоподготовка
      Специализированное оборудование
      Информация
      Новости
      Мероприятия
      Статьи
      Галерея
      Наши контакты
      +7 (495) 234-23-32
      info@microsystemy.ru
      Россия, 123317, Москва, ул. 3-я Красногвардейская, 3., 1 этаж
      2022 © «ООО Микросистемы»