Микроскопы для материаловедения
Микроскопы для материаловедения широко распространены в сферах, связанных с изучением в одноименных сферах, а также в машиностроении и микроэлектронике. Когда сталкиваешься с этой областью науки, то сразу представляешь непрозрачные объекты вроде срезов, аншлифов, изломов и сколов. Специфика объекта дает возможность задействовать только отраженный свет, а также темное поле, поляризацию и контраст.
2 450 000 ₽
2 900 000 ₽
2 900 000 ₽
Цена по запросу
Цена по запросу
от 1 100 000 ₽
1 100 000 ₽
1 400 000 ₽
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Показать еще
- прямые;
- инвертированные;
- инспекционные микроскопы;
- стереомикроскопы.
Специфика работы микроскопов для материаловедения
Прямой микроскоп для изучения материалов позволяет работать с определенными образцами, что обуславливается ограничением пространства между линзами и предметным столом. В некоторых моделях реализованы специальные проставки, увеличивающие рабочую зону, но повседневный монтаж/снятие конструкции негативно сказывается как на устойчивости, так и на дальнейшей эксплуатации техники.Использование прямых моделей накладывает определенный спектр ограничений на исследуемый объект. В частности, торцы должны быть параллельны, иначе фокус, особенно при увеличении, будет словить весьма проблематично. Оптимальные элементы для исследования – тонкие пластины, порошки, аншлифы с пробоподготовкой.
Инвертированные приборы имеет два преимущества над прямыми:
- отсутствие ограничения на размеры предметов;
- необходимость подготовки только лишь исследуемой поверхности.
К минусам же отнесем нежелательные механические повреждения образцов при контакте с предметным столом и высокую стоимость самого микроскопа. Инвертированная техника отлично подходит для аншлифов, геологии и больших образцов вроде ГБЦ.
Инспекционное оборудование зачастую строится на базе прямых микроскопов, но отличия присутствуют. Здесь изменена конструкция предметного стола для возможности работы с фотошаблонами и кремниевыми пластинами. Размеры исследуемых пластин, которые могут достигать до 450 мм, накладывают высокие требования к жесткости конструкции и штатива в частности. Такие микроскопы монтируются исключительно в «чистых комнатах».
Стереомикроскоп разработан для первичного ознакомления с контролем качества сварки, пайки, износом поверхности и не только. Он идеален для быстрой проверки контроля. Модели обладают хорошим рабочим расстоянием и стереоскопичностью изображения при отличной глубине резкости. Также возможна фотофиксация и измерение средствами комплектного ПО.
Поставка, установка, настройка, обучение, полное сопровождение
Наши специалисты предложат лучшую конфигурацию согласно специфике работы и конкретных исследуемых образцов. Возможна поставка, установка и настройка оборудования «под ключ», обучение сотрудников и дальнейшее сопровождение.Новости
Все новости