Сканирующий настольный электронный микроскоп SEC SNE-3200M
Характеристики
Тип
Электронный
Область применения
Электронная микроскопия
Специализация
Сканирующий
Объект исследования
Геология +, Металлы / материалы, Микроэлектроника, Реставрация
Все характеристики
Цена по запросу
Оставить заявкуВ лист запроса
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Настольный СЭМ среднего диапазона (сканирующий электронный микроскоп)
Компактный настольный РЭМ с 3-осевым управлением столиком и стандартными двойными детекторами визуализации (SE / BSE).
Компактный настольный РЭМ с 3-осевым управлением столиком и стандартными двойными детекторами визуализации (SE / BSE).
Подробнее
Описание
Включена возможность низкого вакуума для непроводящих образцов. Настольные SEM серии SNE-3200 соответствуют или превосходят возможности визуализации всех других доступных настольных SEM, за исключением SNE-4500M и SNE-4500M Plus. Дополнительные функции, такие как контроль переменного размера пятна, обеспечивают наиболее гибкую визуализацию, а также оптимальную генерацию рентгеновских лучей для анализа EDS. SNE-3200M стандартно поставляется с детектором обратного рассеяния (BSE) и настоящим детектором вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SE). Программное обеспечение на русском языке.
SNE-3200M универсален, его можно легко использовать для рабочих процессов контроля качества, инженерного персонала и даже в учебных заведениях благодаря его прочной конструкции и простому в освоении и использовании программному обеспечению.
По желанию, аппарат может поставляться с удалением некоторых функций, что делает эту модель самым доступным SEM на рынке.
Замораживающая платформа
Антивибрационный стол
Удобное позиционирование образца достигается перемещением ручного 3-х осевого столика. Доступен широкий выбор держателей для образцов, подходящих для любого типа образцов. Программное обеспечение предлагает начинающему пользователю простой и понятный интерфейс, свободный от беспорядка, в то время как более продвинутый пользователь может легко получить доступ к функциям, позволяющим дополнительно управлять функциями микроскопа.
С помощью интуитивно понятного программного обеспечения пользователи могут просматривать и сохранять изображения SE и BSE или как составное изображение, объединяющее SE + BSE, как показано ниже. Это составное изображение представляет собой отличный инструмент для исследовательского анализа, предлагая топографическую (SE) и композиционную (BSE) информацию на одном единственном изображении.
На всех слайдах записывается служебная информация, необходимая для дальнейшей отчётности:
1. Дата проведения эксперимента
2. Масштаб
3. Увеличение
4. Рабочее расстояние
5. Вольтаж
6. Режим работы
SNE-3200M универсален, его можно легко использовать для рабочих процессов контроля качества, инженерного персонала и даже в учебных заведениях благодаря его прочной конструкции и простому в освоении и использовании программному обеспечению.
По желанию, аппарат может поставляться с удалением некоторых функций, что делает эту модель самым доступным SEM на рынке.
Доступны дополнительные опции:
Элементный анализ EDSЗамораживающая платформа
Антивибрационный стол
| Рабочая камера | Автонастройка | Режимы сканирования |
X, Y, R (3 оси) - стандартные |
Старт (напряжение нити) |
Вторичныеэлектроны (SE) |
Удобное позиционирование образца достигается перемещением ручного 3-х осевого столика. Доступен широкий выбор держателей для образцов, подходящих для любого типа образцов. Программное обеспечение предлагает начинающему пользователю простой и понятный интерфейс, свободный от беспорядка, в то время как более продвинутый пользователь может легко получить доступ к функциям, позволяющим дополнительно управлять функциями микроскопа.
С помощью интуитивно понятного программного обеспечения пользователи могут просматривать и сохранять изображения SE и BSE или как составное изображение, объединяющее SE + BSE, как показано ниже. Это составное изображение представляет собой отличный инструмент для исследовательского анализа, предлагая топографическую (SE) и композиционную (BSE) информацию на одном единственном изображении.
Примеры снимков в разных режимах работы
На всех слайдах записывается служебная информация, необходимая для дальнейшей отчётности:
1. Дата проведения эксперимента
2. Масштаб
3. Увеличение
4. Рабочее расстояние
5. Вольтаж
6. Режим работы
Дополнительно
| ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ СИСТЕМА | |
| Разрешение |
|
| Ускоряющее напряжение |
|
| Детектор |
|
| Электронная пушка |
|
| ФУНКЦИИ ВИЗУАЛИЗАЦИИ | |
| Автоматические функции |
|
| Увеличение (в прямом эфире) |
|
| Увеличение (сохранено) |
|
| Размеры захвата изображений |
|
| Форматы изображений |
|
| Аннотация изображения |
|
| СИСТЕМА ПЕРЕМЕЩЕНИЯ ПРОБ | |
| Ход стола |
|
| Максимальный размер образца |
|
| ВАКУУМНАЯ СИСТЕМА | |
| Вакуумные режимы |
|
| Черновой вакуумный насос |
|
| Высоковакуумные насосы |
|
| РАЗМЕРЫ | |
| Основной блок |
|
| Блок управления |
|
Задать вопрос
Как заказать
Оформить заказ на нашем сайте легко. Просто добавьте выбранные товары в лист запроса или оставьте заявку, а затем перейдите на страницу Запроса, проверьте правильность заказанных позиций и нажмите кнопку «Оформить запрос».
Если не нашли подходящее оборудование, оставьте нам заявку, и наши специалисты вам помогут подобрать подходящее оборудование.
Оставить заявку
Функция «Оставить заявку» позволяет вам не проходить всю процедуру оформления запроса самостоятельно. Вы заполняете форму, и через короткое время вам перезвонит менеджер. Он уточнит все условия запроса, ответит на вопросы, касающиеся качества товара, его особенностей.
Услуги
Наша компания предлагает профессиональные услуги по настройке микроскопов. Мы знаем, насколько важно иметь точную и качественную настройку для достижения максимальной четкости и точности наблюдения. Наша команда экспертов имеет богатый опыт в области микроскопии и готова помочь вам в достижении наилучших результатов.
Компания Микросистемы предлагает высококачественные услуги по пусконаладке микроскопов. Наша команда опытных специалистов обладает всеми необходимыми знаниями и навыками для того, чтобы обеспечить эффективную работу вашего микроскопа.
