Микроскоп Keyence VK-9700: Все проблемы решены!
Проблемы, обычно возникающие при работе с традиционными комплектующими:
Оптический микроскоп
Фокусировка на образце, имеющем неровную поверхность, при увеличении невозможна.
СЭМ
Наблюдение проводится лишь в черно-белом цвете, есть ограничение в размерах образца, первичная обработка занимает много времени.
Профилометр
Профиль объекта не может быть измерен без повреждения образца
Лазерный сканирующий микроскоп преодолевает все эти ограничения
Оптический микроскоп
Низкое разрешение и контрастность (Поверхность компакт-диска (6000x))
Малая глубина резкости (Кромка лезвия (1000x) )
Нет единства измерений
Наблюдение в высоком разрешении и с большой глубиной резкости
Высокое разрешение, 24000x увеличение (Поверхность компакт-диска (6000x))
Полностью сфокусированное изображение (Кромка лезвия (1000x) )
Отвечает требованиям единства измерений
Результаты измерения, полученные с помощью микроскопа VKсерии, являются достоверными и соответствуют национальным стандартам единства измерений.
СЭМ
Только монохромные изображения
Струйная печать
Подготовка и проведение наблюдение требуют много времени
Ограничения в размерах образца
Ограниченный размер отсека для образца может привести к невозможности проведения наблюдения.
Быстрое получение цветных 3D изображений
Цветные изображения с высоким разрешением
Струйная печать (1000x)
Отсутствие необходимости подготовки образца
Возможность измерения образцов любых размеров и практически из любых материалов
Измерение образцов с широким диапазоном размеров может быть осуществлено благодаря съемной головке. Также, возможно объединение данного компонента с другими устройствами. Имеется поддержка удаленного управления.
Неровная поверхность
Повреждение поверхности при контакте
Поверхность алюминия (200x)
Горизонтальные царапины
Сложности при измерении областей объекта
Измерение профиля некоторых областей может быть недоступен при использовании иглы
Разрешение ограничено диаметром кончика иглы
Невозможность измерения поверхностей, которые меньше по размеру, чем кончик иглы профилометра
Неразрушающий дизайн и возможность измерения неровностей
Бесконтактный метод измерения может быть использован при работе с мягкими объетами. Легкое определение нужных областей.
Тонкий лазерный луч
Диаметр лазерного луча гораздо меньше иглы профилометра, что позволяет проводить более точное измерение объектов с неровностями
Модель |
Микроскоп |
VK-X210 |
VK-X110 |
VK-X105 |
|||||||||
Контроллер |
VK-X200K |
VK-X100K |
VK-X100K |
||||||||||
Увеличение на 15” мониторе |
200x |
400x |
1000x |
3000x |
200x |
400x |
1000x |
2000x |
100x |
200x |
400x |
1000x |
|
Увеличение объектива |
10x |
20x |
50x |
150x |
10x |
20x |
50x |
100x |
5x |
10x |
20x |
50x |
|
Диапазон наблюдения/ измерения |
По горизонтали (H): мкм |
1350 |
675 |
270 |
90 |
1350 |
675 |
270 |
135 |
2700 |
1350 |
675 |
270 |
По вертикали (V): мкм |
1012 |
506 |
202 |
67 |
1012 |
506 |
202 |
101 |
2025 |
1012 |
506 |
202 |
|
Рабочее расстояние: мм |
16.5 | 3.1 | 0.35 | 0.2 | 16.5 | 3.1 | 0.54 | 0.3 | 22.5 | 16.5 | 3.1 | 0.54 | |
Числовая апертура (N.A.) |
0.3 | 0.46 | 0.95 | 0.95 | 0.3 | 0.46 | 0.8 | 0.95 | 0.13 | 0.3 | 0.46 | 0.8 | |
Оптический зум |
1x-8x |
||||||||||||
Общее увеличение |
200x - 24000x |
200x - 16000x |
100x - 8000x |
||||||||||
Оптическая система для наблюдения/измерения |
Конфокальная оптическая система с пинхолом |
||||||||||||
Измерение по вертикали |
Диапазон измерения |
7 мм |
7 мм |
7 мм |
|||||||||
Разрешение дисплея |
0.0005 мкм | 0.005 мкм | 0.005 мкм | ||||||||||
Повторяемость σ |
0.012 мкм | 0.02 мкм | 0.02 мкм | ||||||||||
Измерение по горизонтали |
Разрешение дисплея |
0.001 мкм |
0.01 мкм |
0.01 мкм | |||||||||
Повторяемость 3σ |
0.02 мкм |
0.03 мкм | 0.05 мкм | ||||||||||
Разрешение изображений |
Количество пикселей |
2048 x 1536, 1024 x 768, 1024 x 64 |
|||||||||||
Для ч/б изображений |
16-бит |
||||||||||||
Для цветных изображений |
8-бит на каждый RGB канал |
||||||||||||
При измерении высоты |
24-бит |
21-бит |
21-бит |
||||||||||
Частота кадров |
Сканирование поверхности |
4 Гц - 120 Гц |
|||||||||||
Линейное сканирование |
7900 Гц |
||||||||||||
Автоматические функции |
AAG (Автоусиление), Автофокус, Автонастройка верхнего/нижнего порогов, Double Scan настройка яркости |
||||||||||||
Характеристики лазера |
Длина волны |
Фиолетовый лазер, 408 нм |
Красный полупроводниковый лазер, 658 нм |
||||||||||
Мощность |
Class 2 Laser Product (IEC 60825-1, FDA (CDRH) Part1040.10 | ||||||||||||
Класс лазера |
Class 2 Laser Product (IEC 60825-1, FDA (CDRH) Part1040.10) |
||||||||||||
Светопринимающий элемент |
PMT (Фотоэлектронный умножитель) |
||||||||||||
Источник света для оптического наблюдения |
Лампа |
100 Вт галогенная лампа |
|||||||||||
Параметры цветной камеры для оптических наблюдений |
Формирующий изображение элемент |
1/3" Цветная CCD матрица |
|||||||||||
Разрешение |
Сверхвысокое разрешение (3072×2304) |
||||||||||||
Автонастройка |
Усиление, Скорость затвора |
||||||||||||
Блок обработки данных |
ПК, поставляемый KEYENCE c VK-X (ОС: Windows 7 Professional Edition) 7. |
||||||||||||
Источник питания |
Напряжение |
~100 ~ 240 В, 50/60Гц |
|||||||||||
Потребляемый ток |
450 ВА макс. |
||||||||||||
Вес |
Микроскоп |
Прим. 26 кг (Измерительная головка: прим. 10 кг) |
Примx. 25 кг (Измерительная головка: прим. 8.5 кг) |
Прим. 25 кг (Измерительная головка: прим. 8.5 кг) |
|||||||||
Контроллер |
Прим. 11 кг |
Обратная связь
Оформить заказ на нашем сайте легко. Просто добавьте выбранные товары в лист запроса или оставьте заявку, а затем перейдите на страницу Запроса, проверьте правильность заказанных позиций и нажмите кнопку «Оформить запрос».
Если не нашли подходящее оборудование, оставьте нам заявку, и наши специалисты вам помогут подобрать подходящее оборудование.
Оставить заявку
Функция «Оставить заявку» позволяет вам не проходить всю процедуру оформления запроса самостоятельно. Вы заполняете форму, и через короткое время вам перезвонит менеджер. Он уточнит все условия запроса, ответит на вопросы, касающиеся качества товара, его особенностей.