Микроскоп DSX510: захват полнофокусных изображений и 3D-изображений

Качество изображения в микроскопе Olympus DSX510

EFI: обнаружение неровностей

Благодаря функции EFI (Extended Focal Image) цифровой микроскоп позволяет получить четкое, сфокусированное изображение модели или образца независимо от того, насколько неровная у них поверхность. Во время использования EFI делается несколько снимком, в то время как точка фокусировки перемещается вверх и вниз. Далее изображения области, где образец был в фокусе, объединяются в одно, что в результате позволяет точно осматривать неровные поверхности. Скорость захвата Olympus EFI теперь выше, чем когда-либо.

Один клик для показа в 3D

DSX510 может захватывать модель в трех измерениях, позволяя исследовать ее под любым углом и видеть образец таким, какой он есть на самом деле. С подробными 3D-изображениями можно просматривать и измерять отдельные элементы или неровности. Также можно измерить различия по высоте и объему, что в итоге облегчит проведение анализа.

Быстрая съемка панорамных изображений на больших площадях

Больше нет проблемы, когда объект оказывается «за пределами поля зрения». Во время съемки панорамы система автоматически соединит снимки в большое поле обзора в режиме реального времени.

Автопанорама: один клик для захвата всего поля зрения

Просто поместите образец в кадр и начните процесс съемки. Объект автоматически захватит необходимую область.

Ручная панорама: расставьте приоритеты

С помощью данной функции вы сможете объединить изображения нужной области, перемещая столик по вертикали, горизонтали и наклоняя штатив.

Высококачественная панорама

Установите количество изображений, длину и начальную точку, затем запустите процесс соединения снимков. Он выполняется путем сопоставления полученных картинок с образцом. Автоматически исправляются затенения, в результате чего получается изображение с высоким разрешением.

Совмещение EFI и 3D-захват

Режим панорамы может использоваться одновременно с EFI и функцией 3D. Возможность захвата изображений на большой площади, отображение неровностей поверхности и создание трехмерных изображений – все это выгодно отличает DSX510 от обычных цифровых микроскопов.

Устройство снабжено улучшенными алгоритмами для сопоставления с образцом и коррекции затенения. Широкоугольные изображения с высоким разрешением и качеством реализованы при помощи функции оптимизации рисунка без его смещения.

Автоматическая запись больших объемов данных

Благодаря особой функции, DSX510 может автоматически захватывать изображения нескольких зарегистрированных точек с автофокусом.